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Vorlage(n)
Abb. II.5.1. Vierkreisdiffraktometer Enraf-Nonius CAD-4 mit Szintillationszähler und Kappa-Goniometer |
Abb. II.5.2. Flächenzähler mit CCD (Fa. Bruker) |
Abb. II.5.3. Flächenzähler mit Image Plate Detektor (Stoe IPDS-II) |
Raum | reziprok | real | Patterson/Vektor |
---|---|---|---|
Ort (Koordinaten) | mit u=x1-x2, u=y1-y2, u=z1-z2 | ||
Amplitude | Stukturfaktor F | Elektronendichte ρ | Pattersonfunktion P |
Symmetrie | 11 Laueklassen | 32 Punktgruppen | 24 Pattersongruppen |
81 Beugungssymbole aus F2 | 230 Raumgruppen | Harker-Geraden, -Schnitte | |
keine Translationssymmetrie | translationssymmetrisch | translationssymmetrisch | |
h: | -3 | -2 | -1 | 0 | 1 | 2 | 3 |
F(h) | 2 | -1 | -1 | 2 | -1 | -1 | 2 |
Abb. II.5.4. Eindimensionale Struktur (Mitte) mit Fourierkarte (oben) und Patterson (unten). ‣ SVG |
Abb. II.5.5. Temperaturfaktoren B ‣ SVG |
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