Methoden und Konzepte (AC)
II.3 a: Grundlagen der Pulverdiffraktometrie
- Dozenten:
- 1 ECTS-Punkt (3 Tage nachmittags)
- Teilnehmerzahl: ca. 10
- Voraussetzungen: Basiskurse Punktsymmetrie,
Kristallographie und Beugung.
- Dieser Kurs ist Voraussetzung für die Teilnahme am Kurs
Rietveld-Methoden.
- Inhalt
- Apparatives
- Indizierung von Pulverdiffraktogrammen
- Auswertung von Pulverdiffraktogrammen mittels JCPDS/Search-Match
- Methodenzettel (der englische!)
- Kursmaterialien und Links