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Inhalt Einleitung I. Spektroskopie II. Beugung III. Bildgebung IV. Sonstige Methoden
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Vorlesung Methoden der Anorganischen Chemie

II. Beugungsmethoden

1. Generelles zur Beugung

Vorlagen zu II.1.


wichtigste Methode zur Charakterisierung kristalliner FK (Strukturaufkl"arung) Kristalle und deren Symmetrie wichtig $\mapsto$ Kap. II-2.) {\bf Physikalisches Prinzip der Beugung} vgl. normale Optik (Beugung am Spalt oder besser Gitter, \fbox{Laser-Demo} hier nur $10^5$ x kleinere Abst"ande + Wellenl"angen $\lambda$ im Bereich der Atomabst"ande (ca. 1{\AA} = 100 pm) d.h. f"ur die verschiedenen Strahlungsarten: elektromagnetische Strahlung: R"ontgen (zwischen $\gamma-$ und UV) n: thermische Neutronen (n mit RT: bei T=273 K $\mapsto$ 1.65 $\AA$) $e^-$: ca. 40 keV = 6.1 pm periodische Anordnung von Streuzentren Kristall (! sehr viele Richtungen periodisch !) Richtungen positiver + negativer Interferenz der Elementarwellen (Reflexe) je mehr Streuzentren, umso sch"arfer die Maxima (Spalt $\mapsto$ Gitter) $\mapsto$ \fbox{DEMO Discus/Web} $\mapsto$ 2 Fragen f"ur Theorieteil (Kap. II-3) \ding{202} ? Richtung positive Interferenz? Ort der Reflexe? \ding{203} ? Intensit"aten jeweils dazu ? {\bf Einteilung} der Beugungsmethoden nach: \underline{Strahlungsart:} (inkl. Auswahl/Einschr"ankungen) $e^-$ geringe Eindringtiefe $\mapsto$ nur f"ur Oberfl"achen + Gase R"ontgen Standard in allen FK-Labors n teuer (Synchrotron) \underline{Probe:} Gase, Fl"ussigkeiten (eher speziell) FK: R"ontgen/Neutronen \underline{\bf Pulver:} (Kap. II-4.) $\oplus$ schnell (s. AFP) $\oplus$ nur polykristalline Probe $\ominus$ begrenzte Strukturinformation - Vergleich mit Bekanntem - Strukturbestimmung: kompliziert/keine Routine - Verfeinerung: schon gut m"oglich (Rietveld) \underline{\bf Einkristall:} (Kap. II-5.) $\oplus$ einzig saubere Methode zur Strukturbestimmung $\ominus$ langsam (Tage bis Wochen) $\ominus$ braucht gute/gr"o"sere Kristalle (ca. 0.1 mm) $e^-$ (spezieller) (Kap. II-6.) - EXAFS (innere Beugung) - RHEED, LEED (Oberfl"achen) \underline{Detektor:} Szintillationsz"ahler $\mapsto$ keine Ortsaufl"osung Film (alt); Image-Plate, CCD (modern) $\mapsto$ ortsaufgel"ost \underline{Theorie:} f"ur alle gemeinsam (Kap. II-3) $\Downarrow$ weitere Kapiteleinteilung $\Downarrow$ II-2. Grundlagen der Kristallographie II-3. Grundlagen der Beugungsmethoden (Theorie) II-4. R"ontgen- und Neutronenbeugung I (Pulver) II-5. R"ontgen- und Neutronenbeugung II (EK-Methode, kurz zu Strukturl"osung) II-6. Elektronenbeugung (div. Verfahren) (je nach Zeit)

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